发明名称 残留塩素測定システム、残留塩素測定方法、及びプログラム
摘要 【課題】pH調整試薬や電極式のpH計を用いることなく、吸光光度法によって、pHの影響を補正した遊離塩素濃度を求める。【解決手段】試料液の第1の波長λ1(但し、230nm≦λ1≦260nm)における吸光度A1と第2の波長λ2(但し、270nm≦λ2≦320nm)における吸光度A2を測定する吸光光度計10と、記憶部21と演算部22とを有し、吸光光度計10で得られる吸光度が入力される演算装置20を備え、演算部22は、吸光度に基づき、測定対象液のpHであるpHXを算出するステップ1と、測定対象液の見かけの遊離塩素濃度NfX’を求めるステップ2と、pHXを用いて、測定対象液の見かけの遊離塩素濃度NfX’を、遊離塩素濃度NfXに補正するステップ3を行うことを特徴とする残留塩素測定システム。【選択図】図1
申请公布号 JP2017032503(A) 申请公布日期 2017.02.09
申请号 JP20150155379 申请日期 2015.08.05
申请人 東亜ディーケーケー株式会社 发明人 浦田 美由貴
分类号 G01N21/33 主分类号 G01N21/33
代理机构 代理人
主权项
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