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发明名称
検出用デバイス、光学的検出用装置及び光学的検出方法
摘要
【課題】光学的検出において、光学系部材に付着したゴミや汚れ等を、効率的に除去する技術を提供する。【解決手段】光学的検出用装置に用いる検出用デバイス1であって、試料を保持する試料保持部11と、試料保持部11の少なくとも一部に面し、光学的検出用装置への設置時において光学的検出用装置における光路上に位置する光透過部12と、を備える本体と、光学的検出用装置における光路上の部材に対向する位置に配置された清掃部13と、を有する検出用デバイスを提供する。【選択図】図1
申请公布号
JP2017032413(A)
申请公布日期
2017.02.09
申请号
JP20150152861
申请日期
2015.07.31
申请人
ソニー株式会社
发明人
森本 直樹
分类号
G01N35/02;G01N35/00
主分类号
G01N35/02
代理机构
代理人
主权项
地址
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