发明名称 環境チャンバ装置および被試験装置を試験する方法
摘要 【課題】被試験装置(DUT)周囲の領域におけるチャンバ内の環境で結露が発生しないようにする。【解決手段】被試験装置(DUT)を試験する環境チャンバ装置と方法であって、DUTを内部で試験できる環境チャンバを含む。温度センサがDUTの温度を検知し、DUTの温度を示す信号を生成する。制御器は、チャンバ内の少なくとも温度と湿度のいずれか一方に関する少なくとも1つの入力信号と、DUTの温度を示す信号とを受け取り、前記チャンバ内の少なくとも温度と湿度のいずれか一方を調節する制御信号を出力し、DUTの温度がDUT周囲のチャンバ領域におけるチャンバ内の環境の露点よりも低下せず、DUT周囲の領域におけるチャンバ内の環境で結露が発生しないようにする。【選択図】図1
申请公布号 JP2017032575(A) 申请公布日期 2017.02.09
申请号 JP20160189289 申请日期 2016.09.28
申请人 テンプトロニック コーポレイション 发明人 ペルリン ジェームス;エルスデルファー ノーバート ダブリュ
分类号 G01N17/00 主分类号 G01N17/00
代理机构 代理人
主权项
地址