发明名称 X線分析の操作ガイドシステム、操作ガイド方法、及び操作ガイドプログラム
摘要 【課題】分析対象となる試料の測定条件をユーザが容易に決定することが可能なX線分析の操作ガイドシステム、操作ガイド方法、及び操作ガイドプログラムの提供。【解決手段】X線測定部にて所定の分析目的の測定がなされる試料の試料情報を取得する試料情報取得手段と、互いに異なる複数の測定条件を取得する測定条件取得手段と、前記試料情報に対して、前記複数の測定条件それぞれに基づくシミュレーションにより、前記所定の分析目的の測定による複数の仮想測定結果を取得する仮想結果取得手段と、{前記複数の仮想測定結果のうち2以上の仮想測定結果と、該2以上の仮想測定結果それぞれに対応する2以上の前記測定条件とを、比較結果として出力する比較結果出力手段}と、を備える、X線分析の操作ガイドシステム。【選択図】図1
申请公布号 JP2017032521(A) 申请公布日期 2017.02.09
申请号 JP20150155827 申请日期 2015.08.06
申请人 株式会社リガク 发明人 佐々木 明登
分类号 G01N23/20 主分类号 G01N23/20
代理机构 代理人
主权项
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