发明名称 電子部品搬送装置および電子部品検査装置
摘要 【課題】検査装置の外側に結露が生じるのを防止することができる電子部品搬送装置および電子部品検査装置を提供すること。【解決手段】検査装置1は、ICデバイス90を冷却可能な冷却部30と、ICデバイス90を搬送可能な搬送部と、冷却部30および搬送部を収納するデバイス供給領域A2と、デバイス供給領域A2の外側の少なくとも温度および湿度のいずれかを検出可能な温湿度センサー31と、を有している。また、検査装置1は、温湿度センサー31の検出結果を基に冷却部30の冷却可否を判断する。さらに、検査装置1は、冷却部30の冷却が否であると判断した場合に報知する表示装置40を有している。【選択図】図1
申请公布号 JP2017032375(A) 申请公布日期 2017.02.09
申请号 JP20150151717 申请日期 2015.07.31
申请人 セイコーエプソン株式会社 发明人 前田 政己;桐原 大輔;清水 博之;山崎 孝
分类号 G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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