发明名称 一种等离子体处理腔室及其基台
摘要 本发明提供了一种等离子体处理腔室及其基台,其中基片被夹持于所述基台中的静电卡盘之上,所述静电卡盘下方还包括若干冷却液通道,所述基台包括第一绝缘层,所述第一绝缘层中内嵌有夹持电极,在所述第一绝缘层以下包括一第二绝缘层,所述第二绝缘层中内嵌有加热装置,其中,所述第二绝缘层以下设置有散热层,在所述散热层以下设置有粘接层,所述粘结层中间区域较边缘区域厚,在所述粘接层的边缘区域下方设置有补偿层。本发明能够提供均一的热平衡系统,保证静电夹盘和基片的温度均一性。
申请公布号 CN104167344B 申请公布日期 2017.02.08
申请号 CN201310183299.4 申请日期 2013.05.17
申请人 中微半导体设备(上海)有限公司 发明人 左涛涛;倪图强
分类号 H01J37/32(2006.01)I;H01L21/67(2006.01)I;H01L21/687(2006.01)I 主分类号 H01J37/32(2006.01)I
代理机构 上海智信专利代理有限公司 31002 代理人 王洁
主权项 一种用于等离子体处理腔室的基台,其中基片被夹持于所述基台中的静电卡盘之上,所述静电卡盘下方还包括若干冷却液通道,所述基台包括第一绝缘层,所述第一绝缘层中内嵌有夹持电极,在所述第一绝缘层以下包括一第二绝缘层,所述第二绝缘层中内嵌有加热装置,其特征在于:所述第二绝缘层以下设置有散热层,在所述散热层以下设置有粘结层,所述粘结层中间区域较边缘区域厚,在所述粘结层的边缘区域下方设置有补偿层。
地址 201201 上海市浦东新区金桥出口加工区(南区)泰华路188号