发明名称 可同时测量圆二色谱和折射率的光学装置
摘要 本实用新型涉及一种可同时测量圆二色谱和折射率的光学装置。包括超连续光源、第一透镜、可调起偏器、一维周期金属槽结构、第二透镜、光谱仪;所述超连续光源用于产生连续不同波长的光作为待测手性样品测试光源;所述第一透镜,用于将超连续光源出射的光调整为平行光;所述可调起偏器用于将第一透镜调整后平行光调制成与一维周期金属槽结构成相对称偏振角的线偏振光;所述一维周期金属槽结构上附有所述待测手性样品;所述第二透镜用于将经待测手性样品透射的光聚焦为平行光;所述光谱仪用于采集经第二透镜聚焦后的平行光,实现对待测手性样品的圆二色谱和折射率测量。本实用新型装置采用的元件都是通用元器件,因此该装置的整机成本很低,具有很大的推广价值。
申请公布号 CN205941336U 申请公布日期 2017.02.08
申请号 CN201620879355.7 申请日期 2016.08.15
申请人 福州大学 发明人 钟舜聪;姚海子
分类号 G01N21/19(2006.01)I;G01N21/41(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I 主分类号 G01N21/19(2006.01)I
代理机构 福州元创专利商标代理有限公司 35100 代理人 蔡学俊
主权项 一种可同时测量圆二色谱和折射率的光学装置,其特征在于:包括超连续光源、第一透镜、可调起偏器、一维周期金属槽结构、第二透镜、光谱仪;所述超连续光源用于产生连续不同波长的光作为待测手性样品测试光源;所述第一透镜,用于将超连续光源出射的光调整为平行光;所述可调起偏器用于将第一透镜调整后平行光调制成与一维周期金属槽结构成相对称偏振角的线偏振光;所述一维周期金属槽结构上附有所述待测手性样品;所述第二透镜用于将经待测手性样品透射的光聚焦为平行光;所述光谱仪用于采集经第二透镜聚焦后的平行光,实现对待测手性样品的圆二色谱和折射率测量。
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