发明名称 对失调误差和电容失配误差动态补偿的流水线ADC子级电路
摘要 本发明涉及一种流水线ADC子级电路,尤其是一种对失调误差和电容失配误差动态补偿的流水线ADC子级电路,属于集成电路的技术领域。按照本发明提供的技术方案,所述对失调误差和电容失配误差动态补偿的流水线ADC子级电路,包括与输入信号Vi连接的第一通路以及第二通路;第一通路对输入信号Vi进行采样保持后得到第一差分信号Vip以及第二差分信号Vin;第二通路包括伪随机序列调制的子ADC电路、子DAC电路、余量增益电路、伪随机译码电路及伪随机序列产生电路。本发明结构紧凑,能对失调误差和电容失配误差进行动态补偿,适应范围广,安全可靠。
申请公布号 CN103580691B 申请公布日期 2017.02.08
申请号 CN201310554172.9 申请日期 2013.11.08
申请人 中国电子科技集团公司第五十八研究所 发明人 周启才;戴强;陈珍海;吴俊;季惠才;封晴;于宗光
分类号 H03M1/06(2006.01)I 主分类号 H03M1/06(2006.01)I
代理机构 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 代理人 曹祖良
主权项 一种对失调误差和电容失配误差动态补偿的流水线ADC子级电路,包括与输入信号Vi连接的第一通路以及第二通路;第一通路对输入信号Vi进行采样保持后得到第一差分信号Vip以及第二差分信号Vin;其特征是:第二通路包括伪随机序列调制的子ADC电路(201)、子DAC电路(202)、余量增益电路(203)、伪随机译码电路(204)及伪随机序列产生电路(205);伪随机序列调制的子ADC电路(201),与第一差分信号Vip、第二差分信号Vin、伪随机序列产生电路(205)的输出端、子DAC电路(202)的输入端以及伪随机译码电路(204)的输入端连接,在伪随机序列产生电路(205)产生的伪随机序列作用下根据第一差分信号Vip、第二差分信号Vin向子DAC电路(202)以及输出具有伪随机性质的温度计码;子DAC电路(202),与伪随机序列调制的子ADC电路(201)的输出端连接,根据温度计码产生具有伪随机性质的Vdac信号;伪随机译码电路(204),与伪随机序列调制的子ADC电路(201)的输出端连接,根据温度计码输出K比特的数字编码;余量增益电路(203),通过采样开关(206)与第一差分信号Vip、第二差分信号Vin以及子DAC电路(202)的输出端连接,对第一差分信号Vip、第二差分信号Vin以及Vdac信号进行采样,并输出余量放大值Vo;所述伪随机序列调制的子ADC电路(201)包括第一路参考电压选通电路、第二路参考电压选通电路以及动态锁存比较器组;动态锁存比较器组包括2<sup>K</sup>个动态锁存比较器;第一路参考电压选通电路包括2<sup>K‑2</sup>组高电平选通电路,每组高电平选通电路均包括2<sup>K‑1</sup>个高电平选通开关;第一路参考电压选通电路内的高电平选通开关由伪随机序列产生电路(205)产生的伪随机序列进行控制,且伪随机序列与2<sup>K‑2</sup>组高电平选通电路中的每组高电平选通电路连接控制时的位置顺序不同;第二路参考电压选通电路包括2<sup>K‑2</sup>组低电平选通电路,每组低电平选通电路均包括2<sup>K‑1</sup>个低电平选通开关;第二路参考电压选通电路内的低电平选通开关由伪随机序列产生电路(205)产生的伪随机序列进行控制,且伪随机序列与2<sup>K‑2</sup>组低电平选通电路中的每组低电平选通电路连接控制时的位置顺序不同;第一差分信号Vip、第一路参考电压选通电路选通的高电平与动态锁存器组内对应的动态锁存比较器的正端连接,第二差分信号Vin、第二路参考电压选通电路选通的低电平与动态锁存器组内对应的动态锁存比较器的负端连接。
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