发明名称 一种光发射次模块自动化测试设备
摘要 本实用新型涉及自动检测领域,特别涉及一种光发射次模块自动化测试设备。包括用于固定待检测光发射次模块且带动所述光发射次模块在各个工序间移动的移印工作台,以及按照工序依次设置的:用于清洁光纤头端面的光纤清洁机构;用于检测光纤头端面清洁度的清洁度检测机构;用于将清洁完成的光纤头插入所述待检测光发射次模块且对待检测光发射次模块进行检测的光纤检测机构;用于将检测完毕的光发射次模块取出并分类放置的卸料机构。本实用新型提高了现有技术光发射次模块的检测精度和检测效率,同时降低了检测成本。
申请公布号 CN205926350U 申请公布日期 2017.02.08
申请号 CN201620839282.9 申请日期 2016.08.04
申请人 武汉亿德光兴科技有限公司 发明人 刘依;李亚林;张伟
分类号 B07C5/34(2006.01)I;B07C5/02(2006.01)I;B07C5/36(2006.01)I 主分类号 B07C5/34(2006.01)I
代理机构 北京中济纬天专利代理有限公司 11429 代理人 张晓霞
主权项 一种光发射次模块自动化测试设备,其特征在于,包括用于固定待检测光发射次模块且带动所述光发射次模块在各个工序间移动的移印工作台,以及按照工序依次设置的:用于清洁光纤头端面的光纤清洁机构;用于检测光纤头端面清洁度的清洁度检测机构;用于将清洁完成的光纤头插入所述待检测光发射次模块且对待检测光发射次模块进行检测的光纤检测机构;用于将检测完毕的光发射次模块取出并分类放置的卸料机构。
地址 430000 湖北省武汉市武昌区徐东二路2号东创创意园3号孵化楼202室