发明名称 |
多孔低k介质层的形成方法及多孔低k介质层 |
摘要 |
本发明提供一种多孔低k介质层的形成方法及多孔低k介质层。其中,多孔低k介质层的形成方法包括:提供基底,在所述基底上形成介质层,形成所述介质层的反应气体包括主反应气体,所述主反应气体的化学结构式包括环状基团、硅原子、碳原子和氢原子,所述环状基团包括碳原子和氢原子;利用紫外线对所述介质进行处理,形成多孔低k介质层。采用本发明的方法,可以节省工艺步骤,降低工艺复杂度,提高形成多孔低k介质层的工艺效率。 |
申请公布号 |
CN104103572B |
申请公布日期 |
2017.02.08 |
申请号 |
CN201310113287.4 |
申请日期 |
2013.04.02 |
申请人 |
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
发明人 |
周鸣 |
分类号 |
H01L21/768(2006.01)I;H01L23/522(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/768(2006.01)I |
代理机构 |
北京集佳知识产权代理有限公司 11227 |
代理人 |
骆苏华 |
主权项 |
一种多孔低k介质层的形成方法,其特征在于,包括:提供基底,在所述基底上形成介质层,形成所述介质层的反应气体包括主反应气体,所述主反应气体的化学结构式包括环状基团、硅原子、碳原子和氢原子,所述环状基团包括碳原子和氢原子;利用紫外线对所述介质进行处理,形成多孔低k介质层;所述主反应气体为环丙基(三甲硅基)乙炔或/和1‑乙氧基‑1‑三甲基硅基环丙烷。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江路18号 |