| 发明名称 | 老化测试板 | ||
| 摘要 | 本发明提供了一种老化测试板，包括：布置在老化测试板主板上的多个芯片插座、布置在老化测试板主板上的升压电路模块以及布置在老化测试板主板上的老化测试板接口；其中，各个芯片插座直接或经由其它芯片插座通过老化测试板主板上的布线连接至升压电路模块，而且升压电路模块通过老化测试板主板上的信号线连接至老化测试板接口。 | ||
| 申请公布号 | CN106383304A | 申请公布日期 | 2017.02.08 |
| 申请号 | CN201610924516.4 | 申请日期 | 2016.10.24 |
| 申请人 | 上海华力微电子有限公司 | 发明人 | 李莹;周柯;陈雷刚 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/28(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人 | 智云 |
| 主权项 | 一种老化测试板，其特征在于包括：布置在老化测试板主板上的多个芯片插座、布置在老化测试板主板上的升压电路模块以及布置在老化测试板主板上的老化测试板接口；其中，各个芯片插座直接或经由其它芯片插座通过老化测试板主板上的布线连接至升压电路模块，而且升压电路模块通过老化测试板主板上的信号线连接至老化测试板接口。 | ||
| 地址 | 201203 上海市浦东新区张江开发区高斯路568号 | ||