发明名称 反应腔结构及半导体等离子处理系统
摘要 本发明公开了一种反应腔结构及半导体等离子处理系统,包含腔体、连接设置在腔体底部的集成转接器,该主腔体下方包括具有第一直径的主腔体开口,所述集成转接器由环形侧壁围绕形成用于气体流通的内部通道,所述转接器包括上下相连接的腔底密闭环和转接环,转接环的内部通道具有第二直径,腔底密闭环的顶部与所述主腔体开口形状相匹配具有第一直径,腔底密闭环底部通道具有第二直径,其中第一直径大于第二直径。本发明将原有的腔体分为主下两部分腔体,并将主腔体底部与转接器相整合,简化了腔体内部的加工工艺。
申请公布号 CN104637766B 申请公布日期 2017.02.08
申请号 CN201310564943.2 申请日期 2013.11.14
申请人 中微半导体设备(上海)有限公司 发明人 陈妙娟;吴狄;何乃明
分类号 H01J37/32(2006.01)I;H01L21/67(2006.01)I 主分类号 H01J37/32(2006.01)I
代理机构 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 代理人 张静洁;姜银鑫
主权项 一种反应腔结构,包含主腔体(13)、连接设置在主腔体底部的集成转接器(2),该主腔体(13)下方包括具有第一直径的主腔体开口(11),所述集成转接器由环形侧壁围绕形成用于气体流通的内部通道,所述集成转接器包括上下相连接的腔底密闭环(21)和转接环(22),其特征在于,转接环(22)的内部通道具有第二直径,腔底密闭环(21)的顶部与所述主腔体开口(11)形状相匹配具有第一直径,腔底密闭环(21)底部通道具有第二直径,其中第一直径大于第二直径。
地址 201201 上海市浦东新区金桥出口加工区(南区)泰华路188号