发明名称 透气纳米膜表面材料脱落检测装置
摘要 本实用新型涉及一种透气纳米膜表面材料脱落检测装置,属于纳米材料研究技术领域。该检测装置包括:实验系统,包括试样台和排气管,试样台具有中空的检测腔,并且试样台上设有用于固定待测透气纳米膜的夹持部,使透气纳米膜覆盖于检测腔的开口端,排气管一端与检测腔连通,另一端用于排气;供气系统,包括气体发生装置和气体净化装置,气体发生装置通过供气管连接气体净化装置,气体净化装置用于向试样台上的待测透气纳米膜提供净化气体,使透气纳米膜表面的纳米粒子脱落进入检测腔内;以及检测系统,包括激光粒子计数器,用于对检测腔内的纳米粒子进行计数。采用该装置能够通过精准计数来测定透气纳米膜表面纳米材料的脱落数。
申请公布号 CN205925457U 申请公布日期 2017.02.08
申请号 CN201620760708.1 申请日期 2016.07.19
申请人 昆明纳太科技有限公司 发明人 朱勇;肖辉;吴立群
分类号 B01D65/10(2006.01)I 主分类号 B01D65/10(2006.01)I
代理机构 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人 李海恬
主权项 一种透气纳米膜表面材料脱落检测装置,其特征在于,包括:实验系统,包括试样台和排气管,所述试样台具有中空的检测腔,并且所述试样台上设有用于固定待测透气纳米膜的夹持部,使所述透气纳米膜覆盖于所述检测腔的开口端,所述排气管一端与所述检测腔连通,另一端用于排气;供气系统,包括气体发生装置和气体净化装置,所述气体发生装置通过供气管连接所述气体净化装置,所述气体净化装置用于向所述试样台上的待测透气纳米膜提供净化气体,使透气纳米膜表面的纳米粒子脱落进入所述检测腔内;以及检测系统,包括激光粒子计数器,用于对检测腔内的纳米粒子进行计数。
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