计算机存储器测试结构

摘要

一种用于计算机存储器测试结构的方法和装置。用于存储器板的测试方法的实施方式包括测试该存储器板的存储器，其中测试该存储器包括使用内置自测试结构来提供用于该存储器的第一测试模式。该方法进一步包括用主机来测试该存储器的IO(输入输出)接口，其中该IO接口的测试包括使用该内置自测试结构来提供用于该IO接口的第二测试模式。

主权项

一种测试存储器板的方法，包括：使用所述存储器板的内置自测试模块来测试所述存储器板的存储器，测试所述存储器包括：由所述内置自测试模块的测试生成器生成第一测试模式；将所述第一测试模式发送到所述存储器；从所述存储器捕获测试响应；由所述内置自测试模块的差错校验器检查所捕获的测试响应；以及由所述差错校验器生成差错输出信号；以及通过以下操作来使用所述内置自测试模块测试所述存储器板的IO(输入输出)接口：由所述内置自测试模块的所述测试生成器生成第二测试模式；通过所述存储器板的所述IO接口传送所述第二测试模式；从所述存储器板的所述IO接口接收所传送的第二测试模式以生成重构的测试模式；以及由所述内置自测试模块的所述差错校验器通过检查接收到的输入模式来确定重构的测试模式是否有效。