发明名称 |
一种测试RFID读写器性能参数的装置 |
摘要 |
本实用新型公开了一种测试RFID读写器性能参数的装置,主要由测试暗箱、标签模拟器、控制模块、人机接口组成。测试暗箱内壁上覆有吸波材料,箱体两侧分别设有固定支架。测试时,将被测读写器和标签模拟器分别固定在两侧的固定支架上。控制模块根据用户输入的命令,调整被测读写器和标签模拟器的发射参数和接收参数,并通过人机接口将测试结果显示出来。该装置通过用户输入命令来完成RFID读写器的性能参数的测试,结构简单,便于操作。 |
申请公布号 |
CN205942759U |
申请公布日期 |
2017.02.08 |
申请号 |
CN201620794345.3 |
申请日期 |
2016.07.26 |
申请人 |
武汉万集信息技术有限公司 |
发明人 |
吴雷;蒋海军;谢理;王鹏鹏 |
分类号 |
G06K17/00(2006.01)I |
主分类号 |
G06K17/00(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种测试RFID读写器性能参数的装置,包括:测试暗箱、标签模拟器、控制模块、人机接口,其特征在于,所述标签模拟器,接收到被测读写器发送的射频信号后,改变其相关参数,并回复给被测读写器;所述控制模块,与被测读写器和标签模拟器连接,调整被测读写器和标签模拟器的发射参数和接收参数。 |
地址 |
430070 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷金融港B5座6楼 |