processo para determinar parâmetros de posição de uma superfície fabricada em relação à superfície de referência

摘要

resumo patente de invenção: "processo para determinar parâmetros de posição de uma superfície fabricada em relação à superfície de referência". a presente invenção refere-se a um processo implantado por meios computacionais para determinar parâmetros de posição que definem a posição relativa de uma superfície derivável fabricada em relação a uma superfície de referência, sendo que o processo compreende: uma etapa de fornecimento de superfície nominal (s1), uma etapa de fornecimento de superfície medida (s2), uma etapa de fornecimento de superfície de deformação (s3), uma etapa de determinação de superfície composta (s4), e uma etapa de determinação de parâmetros (s5) durante a qual os parâmetros de posição e pelo menos um parâmetro de deformação que define a superfície de deformação são determinados ao minimizar a diferença entre a superfície nominal e a superfície composta.