发明名称 半導体装置、該半導体装置を有する表示装置
摘要 【課題】酸化物半導体を有するトランジスタにおいて、電気特性の変動を抑制することで、信頼性を向上させる。【解決手段】トランジスタを有する半導体装置であって、トランジスタは、第1の絶縁膜上の第1の酸化物半導体膜と、第1の酸化物半導体膜上のゲート絶縁膜と、ゲート絶縁膜上の第2の酸化物半導体膜と、第1の酸化物半導体膜、及び第2の酸化物半導体膜上の第2の絶縁膜と、を有し、第1の酸化物半導体膜は、ゲート絶縁膜と接するチャネル領域と、第2の絶縁膜と接するソース領域と、第2の絶縁膜と接するドレイン領域と、を有し、第2の酸化物半導体膜は、第1の酸化物半導体膜よりもキャリア密度が高い。【選択図】図1
申请公布号 JP2017028252(A) 申请公布日期 2017.02.02
申请号 JP20160097633 申请日期 2016.05.16
申请人 株式会社半導体エネルギー研究所 发明人 肥塚 純一;神長 正美;島 行徳
分类号 H01L29/786;G09F9/00;G09F9/30;H01L21/8242;H01L27/108;H01L27/146 主分类号 H01L29/786
代理机构 代理人
主权项
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