发明名称 熱解析方法、熱解析装置及びプログラム
摘要 【課題】熱解析の精度を向上する。【解決手段】プロセッサ2は、電子装置の設計情報10に基づき、電子装置の部品11〜13のうち、部品11,12にノード11a,12aを設定し、部品13にノード13a1〜13anを設定し、有限要素法で算出された部品13の領域13b1〜13bmのそれぞれにおける第1の温度及び第1の熱量に基づき、ノード13a1〜13anのそれぞれに、第2の温度及び第2の熱量を含む熱情報を割り当て、その熱情報に基づき、ノード13a1〜13anに含まれる隣接ノード間の熱抵抗13c1を算出し、設計情報10に基づき、ノード11a,12aとノード13a1〜13anとの間の熱抵抗14a,14bを算出することで、ノード11a,12a,13a1〜13anと熱抵抗13c1及び熱抵抗14a,14bを含む熱回路網を生成し、その熱回路網を用いて熱解析を行う。【選択図】図1
申请公布号 JP2017027132(A) 申请公布日期 2017.02.02
申请号 JP20150142004 申请日期 2015.07.16
申请人 富士通株式会社 发明人 小林 弘樹;橋間 正芳
分类号 G06F17/50;G01N25/18 主分类号 G06F17/50
代理机构 代理人
主权项
地址