发明名称 PRESSING APPARATUS OF TEST HANDLER AND FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENT
摘要 본 발명은 테스트 핸들러의 가압 장치 및 전자부품 테스트 장치에 관한 것이다. 본 발명의 하나의 실시예에 따라, 제1 및 제2 모터; 제1 및 제2 모터에 각각 연결되며 각 모터의 회전을 감속시키는 제1 및 제2 감속 유닛; 제1 및 제2 감속 유닛의 감속에 따라 테스트 보드 상에 장착된 피검사 전자부품들을 균일하게 가압하여 테스트핀에 접속시키는 제1 및 제2 균일 가압판; 및 제1 및 제2 감속 유닛의 감속에 따라 제1 및 제2 균일 가압판과 수직하게 왕복 동작하며 제1 및 제2 균일 가압판에 감속 가압력을 전달하는 제1 및 제2 샤프트 유닛;을 포함하는 테스트 핸들러의 가압 장치가 제안된다. 또한, 전자부품 테스트 장치가 제안된다.
申请公布号 KR20170011198(A) 申请公布日期 2017.02.02
申请号 KR20150103420 申请日期 2015.07.22
申请人 주식회사 아테코 发明人 여동현;이택선;유일하
分类号 G01R31/28;G01R1/067;G01R31/26 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
地址