发明名称 |
3 Method and Apparatus for Measuring 3D Refractive Index Tomograms Using a High-Speed Wavefront Shaper |
摘要 |
파면 제어기를 활용한 초고속 고정밀 3차원 굴절률 측정 방법 및 장치가 제시된다. 파면 제어기를 활용한 초고속 고정밀 3차원 굴절률 측정 방법은 파면 제어기(wavefront shaper)를 사용하여 입사광의 조사 각도 및 파면 패턴 중 적어도 하나를 변경하여 샘플에 입사시키는 단계; 상기 샘플을 통과한 2차원 광학장을 간섭계를 이용하여 적어도 하나 이상의 상기 입사광에 따라 측정하는 단계; 및 측정된 상기 2차원 광학장의 정보를 통해 3차원 굴절률 영상을 획득하는 단계를 포함할 수 있다. |
申请公布号 |
KR20170012168(A) |
申请公布日期 |
2017.02.02 |
申请号 |
KR20160103632 |
申请日期 |
2016.08.16 |
申请人 |
주식회사 토모큐브 |
发明人 |
박용근;김규현;신승우 |
分类号 |
G01N21/41;G01B9/02;G01N21/45 |
主分类号 |
G01N21/41 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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