发明名称 3 Method and Apparatus for Measuring 3D Refractive Index Tomograms Using a High-Speed Wavefront Shaper
摘要 파면 제어기를 활용한 초고속 고정밀 3차원 굴절률 측정 방법 및 장치가 제시된다. 파면 제어기를 활용한 초고속 고정밀 3차원 굴절률 측정 방법은 파면 제어기(wavefront shaper)를 사용하여 입사광의 조사 각도 및 파면 패턴 중 적어도 하나를 변경하여 샘플에 입사시키는 단계; 상기 샘플을 통과한 2차원 광학장을 간섭계를 이용하여 적어도 하나 이상의 상기 입사광에 따라 측정하는 단계; 및 측정된 상기 2차원 광학장의 정보를 통해 3차원 굴절률 영상을 획득하는 단계를 포함할 수 있다.
申请公布号 KR20170012168(A) 申请公布日期 2017.02.02
申请号 KR20160103632 申请日期 2016.08.16
申请人 주식회사 토모큐브 发明人 박용근;김규현;신승우
分类号 G01N21/41;G01B9/02;G01N21/45 主分类号 G01N21/41
代理机构 代理人
主权项
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