发明名称 半導体装置およびその製造方法
摘要 【課題】積層基板の割れを抑制して、信頼性を向上した半導体装置を提供する。【解決手段】絶縁層および回路層を含む積層基板と、回路層に接合された半導体素子と、積層基板の、半導体素子が接合された側とは反対側の面に接合されたベース板と、積層基板の周囲を囲んでベース板の周縁部に配置されたケース枠と、を備え、ケース枠の内部が、硬質樹脂からなる封止材で封止されており、ベース板およびケース枠の、封止材と対向する面に、硬質樹脂と接着しないコーティング膜が設けられている半導体装置である。【選択図】図1
申请公布号 JP2017028159(A) 申请公布日期 2017.02.02
申请号 JP20150146950 申请日期 2015.07.24
申请人 富士電機株式会社 发明人 谷口 克己
分类号 H01L25/07;H01L25/18 主分类号 H01L25/07
代理机构 代理人
主权项
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