发明名称 計測装置、計測方法、プログラム、及び物品の製造方法
摘要 【課題】物体の形状を計測する精度の点で有利な計測装置を提供する。【解決手段】物体の形状を計測する計測装置であって、所定方向に周期を有するパターン光を投影された前記物体を撮像して画像データを得る撮像部と、前記画像データに基づいて、前記形状の情報を得る処理を行う処理部と、を有し、前記処理部は、前記画像データに対して、互いに周期が異なる少なくとも2組の基準データを適用し、該少なくとも2組のそれぞれに関して位相を得、前記少なくとも2組に関してそれぞれ得られた少なくとも2つの位相と、該2つの位相に対応する補正値とに基づいて、前記物体上における前記パターン光の位置を得る、ことを特徴とする計測装置を提供する。【選択図】図1
申请公布号 JP2017026391(A) 申请公布日期 2017.02.02
申请号 JP20150143400 申请日期 2015.07.17
申请人 キヤノン株式会社 发明人 小笠原 真貴子
分类号 G01B11/25;G01B11/00 主分类号 G01B11/25
代理机构 代理人
主权项
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