发明名称 粉体圧縮成形物の評価方法及び評価装置
摘要 【課題】表面に皮膜を有する粉体圧縮成形物を効率的且つ精度よく評価する。【解決手段】表面に皮膜を有する粉体圧縮成形物の断層画像をOCT計測により取得する工程と、断層画像に基づいて粉体圧縮成形物からの反射光の深さ方向における強度分布を示す断層プロファイルを算出する工程と、断層プロファイルに基づいて粉体圧縮成形物の溶出率を算出する工程とを備える。【選択図】図9
申请公布号 JP2017026583(A) 申请公布日期 2017.02.02
申请号 JP20150148743 申请日期 2015.07.28
申请人 株式会社ティーワイテクノ;東和薬品株式会社;山形県 发明人 工藤 美紀子;新藤 充;織田 将史;高橋 義行;橋本 智明;今野 俊介
分类号 G01N33/15;G01N21/17 主分类号 G01N33/15
代理机构 代理人
主权项
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