发明名称 空隙配置構造体及び測定方法
摘要 ディップ波形やピーク波形の周波数位置を調整することができる空隙配置構造体及び該空隙配置構造体を用いた測定方法を提供する。電磁波の照射により保持されている被測定物を測定するのに用いられる空隙配置構造体1であって、第1の主面1aから第2の主面1bに向かって複数の空隙部1cが貫通しており、空隙部1cの開口形状が、少なくとも1つの角部C1を有し、角部C1において、該角部C1の両側に位置している直線部分L1,L2同士が曲線部分2により連ねられている、空隙配置構造体1。
申请公布号 JPWO2014132714(A1) 申请公布日期 2017.02.02
申请号 JP20150502808 申请日期 2014.01.24
申请人 株式会社村田製作所 发明人 神波 誠治;近藤 孝志
分类号 G01N21/01 主分类号 G01N21/01
代理机构 代理人
主权项
地址