发明名称 |
半導体装置用ボンディングワイヤ |
摘要 |
【課題】Pdめっきリードフレームでの2nd接合性をさらに改善するとともに、高湿加熱条件においても優れたボール接合性を実現することのできるボンディングワイヤを提供する。【解決手段】Cuを主成分とし、元素周期表第10族の金属元素を総計で0.1〜3.0質量%含有する芯材と、該芯材表面に設けられたPdを主成分とする被覆層と、該被覆層表面に設けられたAuとPdを含む表皮合金層とを含む半導体装置用ボンディングワイヤにおいて、ワイヤ最表面におけるCu濃度が1〜10at%であることを特徴とする。【選択図】なし |
申请公布号 |
JP2017028262(A) |
申请公布日期 |
2017.02.02 |
申请号 |
JP20160127446 |
申请日期 |
2016.06.28 |
申请人 |
日鉄住金マイクロメタル株式会社;新日鉄住金マテリアルズ株式会社 |
发明人 |
山田 隆;小田 大造;大石 良;宇野 智裕 |
分类号 |
H01L21/60;C22C9/00;C22C9/06 |
主分类号 |
H01L21/60 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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