发明名称 |
用于测量玻璃抛光盘面的测量工具 |
摘要 |
本实用新型公开一种用于测量玻璃抛光盘面的测量工具,该测量工具包括:放置在抛光机的玻璃抛光盘面上的大理石标准平面尺;设置于大理石标准平面尺上的表座,该表座上设有多个相互独立的数显千分表尺,每个数显千分表尺均通过数据传输模块与用于将每个数显千分表尺的测量数据进行显示输出的显示器相连。本实用新型具有结构简单、工作可靠性高且测量精确的特点,通过多个数显千分表即可准确、直观的对玻璃抛光盘面进行测量,为后续对玻璃抛光盘面进行校准提高了依据,从而通过该玻璃抛光盘面进行抛光加工的玻璃有较高的一次性加工良率。 |
申请公布号 |
CN205919775U |
申请公布日期 |
2017.02.01 |
申请号 |
CN201620971075.9 |
申请日期 |
2016.08.28 |
申请人 |
湖北慧点科技股份有限公司 |
发明人 |
杨冬华;何雄 |
分类号 |
G01B5/28(2006.01)I |
主分类号 |
G01B5/28(2006.01)I |
代理机构 |
佛山市广盈专利商标事务所(普通合伙) 44339 |
代理人 |
杨乐兵 |
主权项 |
一种用于测量玻璃抛光盘面的测量工具,其特征在于,该测量工具包括:放置在抛光机的玻璃抛光盘面上的大理石标准平面尺;设置于大理石标准平面尺上的表座,该表座上设有多个相互独立的数显千分表尺,每个数显千分表尺均通过数据传输模块与用于将每个数显千分表尺的测量数据进行显示输出的显示器相连。 |
地址 |
443600 湖北省宜昌市秭归县茅坪镇建东大道195号 |