| 发明名称 | 一种跌落测试PCB板的配套卡具 | ||
| 摘要 | 一种跌落测试PCB板及其配套卡具，属于材料测试领域。其包括PCB板（1），所述的PCB板（1）为正方体，在正方形的各个边的中间位置均布置菊花链（2），菊花链（2）上引线直径（4）与焊球直径尺寸接近相等所述的菊花链（2）引线（4）的始终点焊盘（3）位于PCB板（1）的中间位置，在PCB板（1）的四个角上布置有用于将PCB板（1）固定于跌落台上的孔（5）。本发明操作简单，可以减少工作强度和保证实验的可重复性和稳定性。 | ||
| 申请公布号 | CN104006999B | 申请公布日期 | 2017.02.01 |
| 申请号 | CN201410149294.4 | 申请日期 | 2014.04.12 |
| 申请人 | 北京工业大学 | 发明人 | 雷永平;顾建;温桂琛;林健;符寒光;吴中伟 |
| 分类号 | G01N1/32(2006.01)I;G01N3/30(2006.01)I;G01N23/22(2006.01)I | 主分类号 | G01N1/32(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 | 代理人 | 纪佳 |
| 主权项 | 一种跌落测试PCB板的配套卡具，其特征在于：PCB板(1)为正方形，在正方形的各个边的中间位置均布置菊花链(2)，菊花链(2)上的引线(4)的直径与焊球的直径尺寸接近相等，所述菊花链(2)上的引线(4)的始、终点焊盘(3)位于PCB板(1)的中间位置，在PCB板(1)的四个角上布置有用于将PCB板(1)固定于跌落台上的孔(5)；PCB板的配套卡具包括磨抛卡具和电镜测试卡具，磨抛卡具包括上板面(6)和下板面(7)，两者通过合页(15)连接；凹槽III(9)位于下板面(7)的左侧中间位置，凹槽IV(10)位于下板面(7)的上侧中间位置，凹槽III(9)和凹槽IV(10)尺寸与PCB板(1)上封装的BGA即球栅阵列结构尺寸相同，凹槽I(11)位于下板面的右侧的中间位置，凹槽II(12)位于下板面的下侧的中间位置；凹槽I(11)和凹槽II(12)为长方形，凹槽I(11)和凹槽II(12)的竖直方向尺寸比封装BGA小1毫米，伸出端I(13)位于下板面(7)的左侧，伸出端II(14)位于下板面(7)的上侧，螺孔(8)位于磨抛卡具右下方，通过螺丝固定连接上板面(6)和下板面(7)；电镜测试卡具底部由长方体和两个圆弧组成，在长方体上方均匀分布10个卡槽(16)，卡槽尺寸能够满足封装BGA的PCB板竖直插放卡槽内。 | ||
| 地址 | 100124 北京市朝阳区平乐园100号 | ||