发明名称 一种基于GeSbTe相变材料的薄膜器件
摘要 本发明公开了一种基于GeSbTe相变材料的薄膜器件,包括衬底层、下电极层、第一GeSbTe材料层、二硫化钼层、第二GeSbTe材料层、石墨烯层、上电极层和保护层,所述下电极层、第一GeSbTe材料层、二硫化钼层、第二GeSbTe材料层、石墨烯层、上电极层、保护层依次沉积叠加在所述衬底层上,所述第一GeSbTe材料层为离子掺杂的GeSbTe相变材料层,所述第二GeSbTe材料层为纯相的GeSbTe相变材料。本发明的基于GeSbTe相变材料的薄膜器件具有热稳定性高、一致性好、箱变速度快和使用寿命长特点。
申请公布号 CN106374045A 申请公布日期 2017.02.01
申请号 CN201610962686.1 申请日期 2016.10.28
申请人 广东石油化工学院 发明人 朱伟玲;陈星源;古迪
分类号 H01L45/00(2006.01)I 主分类号 H01L45/00(2006.01)I
代理机构 深圳市千纳专利代理有限公司 44218 代理人 潘丽君
主权项 一种基于GeSbTe相变材料的薄膜器件,其特征在于:包括为衬底层(100)、下电极层(200)、第一GeSbTe材料层(300)、二硫化钼层(400)、第二GeSbTe材料层(500)、石墨烯层(600)、上电极层(700)和保护层(800),所述下电极层(200)、第一GeSbTe材料层(300)、二硫化钼层(400)、第二GeSbTe材料层(500)、石墨烯层(600)、上电极层(700)、保护层(800)依次沉积叠加在所述为衬底层(100)上,所述第一GeSbTe材料层(300)为离子掺杂的GeSbTe相变材料层,所述第二GeSbTe材料层(500)为纯相的GeSbTe相变材料。
地址 525000 广东省茂名市官渡二路139号大院