存储器的快速内建自测试系统及方法

摘要

本发明涉及一种存储器的快速内建自测试系统及方法，包括一个控制器、一个测试向量产生器、一个全局比较器和若干个本地比较器；在兼容传统的内建自测试的基础上，使用一个额外的控制信号可以实现同时对多个存储器或者一个存储器的多个存储模块进行并行测试，从而显著减少测试时间，节约布局面积。

主权项

存储器的快速内建自测试系统，其特征在于，包括一个控制器(12)、一个测试向量产生器(11)、一个全局比较器(13)、N个存储器和N‑1个本地比较器；N为正整数；控制器(12)表示当前存储器的内建自测试MBIST的工作状态的输出信号ST连接至测试向量产生器(11)；控制器(12)表示期望的存储器输出数据的输出信号QX连接到全局比较器(13)；控制器(12)的输出信号BP连接到所有的本地比较器，用于分别控制本地比较器输出数据的选择，能够将任意一个存储器的输出连接至全局比较器(13)；控制器(12)的输出信号MUX连接到所有的存储器；全局比较器(13)的输入QX0和RES0连接至第N‑1个本地比较器；全局比较器(13)表示期望的输出数据和存储器实际输出数据的最终比较结果的输出RES连接到控制器(12)；第N‑1个本地比较器的输入数据为第N个存储器的输出数据Q_N和第N‑1个存储器的输出数据Q_N‑1；其输出数据QX_N‑1连接至第N‑2个本地比较器的输入数据；第N‑1个本地比较器输出比较结果RES_N‑1连接至第N‑2个本地比较器的输入比较结果；除了第N‑1个本地比较器外，第n个本地比较器的输入数据为第n个存储器的输出数据Q_n和第n+1个本地比较器的输出数据QX_n+1；第n个本地比较器输出比较结果RES_n连接至第n‑1个本地比较器的输入比较结果；n≤N‑1；测试向量产生器(11)连接控制器(12)和所有存储器。