OLED接触阻抗测试组件

摘要

本发明公开了一种OLED接触阻抗测试组件，其包括：位于OLED面板内部的OLED阴极材料层；设置于OLED面板边缘的多个测试点；连接所述OLED阴极材料层和所述测试点的连接线，所述测试点和所述连接线采用所述连接线部分重叠于所述测试点上方的方式连接，所述OLED阴极材料层和所述连接线采用所述OLED阴极材料层部分重叠于所述连接线上方的方式连接。本发明的OLED接触阻抗测试组件可以快速测试OLED面板内部不同组件的接触阻抗，通过阻抗的测量可以在复杂的OLED面板内部快速定位存在的问题。

主权项

一种OLED接触阻抗测试组件，设置于OLED面板上，其特征在于，包括：位于OLED面板内部的OLED阴极材料层；设置于OLED面板边缘的多个测试点；连接所述OLED阴极材料层和所述测试点的连接线，所述连接线的数量与所述测试点的数量对应，所述连接线具有相对两端部，其中一端部与所述测试点重叠连接，且所述连接线叠设于所述测试点之上，另一端部与所述OLED阴极材料层重叠连接，且所述OLED阴极材料层叠设于所述连接线的另一端部之上。