发明名称 |
检测基板缺陷的检测方法及检测装置 |
摘要 |
本发明提供一种测基板缺陷的检测方法,该检测方法包括:S1、获取待检测基板的图像;其中,所述检测方法还包括精检步骤,该精检步骤包括:S2、判断所述待检测基板的图像中上是否存在第一缺陷区;当所述待检测基板的图像中存在所述第一缺陷区时,所述精检步骤包括:S3、将所述第一缺陷区内的像素的颜色转换为第一纯色,将所述图像中的正常区内的像素的颜色转换为第二纯色。本发明还提供一种检测装置。在本发明所提供的检测方法中,提高了所述第一缺陷区与所述正常区的对比度,便于检验员区分第一缺陷区和正常区,减少漏检情况的出现。 |
申请公布号 |
CN103792705B |
申请公布日期 |
2017.02.01 |
申请号 |
CN201410041819.2 |
申请日期 |
2014.01.28 |
申请人 |
北京京东方显示技术有限公司;京东方科技集团股份有限公司 |
发明人 |
毛继禹;张然 |
分类号 |
G02F1/13(2006.01)I;G01N21/956(2006.01)I |
主分类号 |
G02F1/13(2006.01)I |
代理机构 |
北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 |
代理人 |
彭瑞欣;陈源 |
主权项 |
一种检测基板缺陷的检测方法,该检测方法包括:步骤S1、获取待检测基板的图像;其特征在于,所述检测方法还包括精检步骤,该精检步骤包括:步骤S2、判断所述待检测基板的图像中上是否存在第一缺陷区;当所述待检测基板的图像中存在所述第一缺陷区时,所述精检步骤包括:步骤S3、将所述第一缺陷区内的像素的颜色转换为第一纯色,将所述图像中的正常区内的像素的颜色转换为第二纯色。 |
地址 |
100176 北京市经济技术开发区经海一路118号 |