发明名称 |
一种高分辨率扫描合成孔径雷达精确聚焦处理方法和装置 |
摘要 |
本发明公开了一种高分辨率扫描合成孔径雷达(ScanSAR)精确聚焦处理方法,所述方法包括:将每个子测绘带的ScanSAR数据进行二维子孔径分割,并对每个二维子孔径进行多普勒调频率误差(DRE)估计;对整个测绘带的ScanSAR数据进行距离向空变DRE估计;将所述进行距离向空变DRE估计后的ScanSAR数据进行方位向误差估计;对每个子测绘带的ScanSAR数据进行全孔径相位误差校正和方位向压缩。本发明同时还公开了一种高分辨率扫描合成孔径雷达精确聚焦处理装置。 |
申请公布号 |
CN104280734B |
申请公布日期 |
2017.02.01 |
申请号 |
CN201410498574.6 |
申请日期 |
2014.09.25 |
申请人 |
中国科学院电子学研究所 |
发明人 |
李宁;王宇;邓云凯;张志敏;刘亚波;龚小冬;吴铮;张明咪 |
分类号 |
G01S13/90(2006.01)I |
主分类号 |
G01S13/90(2006.01)I |
代理机构 |
北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 |
代理人 |
张颖玲;蒋雅洁 |
主权项 |
一种高分辨率扫描合成孔径雷达ScanSAR精确聚焦处理方法,其特征在于,所述方法包括:将每个子测绘带的ScanSAR数据进行二维子孔径分割,并对每个二维子孔径进行多普勒调频率误差DRE估计;对整个测绘带的ScanSAR数据进行距离向空变DRE估计;将所述进行距离向空变DRE估计后的ScanSAR数据进行方位向误差估计;对每个子测绘带的ScanSAR数据进行全孔径相位误差校正和方位向压缩。 |
地址 |
100190 北京市海淀区北四环西路19号 |