发明名称 | 光检测装置以及光检测方法 | ||
摘要 | 一种光检测装置,具备:第1光源,其向被摄体照射中心波长为第1波长的第1光;第2光源,其向被摄体照射中心波长为比第1波长长的第2波长的第2光;光学滤波器,其包含至少1个第1区域以及至少1个第2区域,使在被摄体进行透射或反射后的第3光进行透射,至少1个第1区域的透射波长即第1透射波长的范围比第1波长长并且比第2波长短,至少1个第2区域的透射波长即第2透射波长的范围比第1波长长并且比第2波长短,第2透射波长的半值宽度与第1透射波长的半值宽度不同;至少1个第1检测器,其检测在至少1个第1区域进行透射后的第3光的第1光量;和至少1个第2检测器,其检测在至少1个第2区域进行透射后的第3光的第2光量。 | ||
申请公布号 | CN106361269A | 申请公布日期 | 2017.02.01 |
申请号 | CN201610459033.1 | 申请日期 | 2016.06.22 |
申请人 | 松下知识产权经营株式会社 | 发明人 | 西胁青儿 |
分类号 | A61B5/00(2006.01)I | 主分类号 | A61B5/00(2006.01)I |
代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人 | 柯瑞京 |
主权项 | 一种光检测装置,具备:第1光源,其向被摄体照射中心波长为第1波长的第1光;第2光源,其向所述被摄体照射中心波长为比所述第1波长长的第2波长的第2光;光学滤波器,其包含至少1个第1区域以及至少1个第2区域,使在所述被摄体进行透射或反射后的第3光进行透射,所述至少1个第1区域的透射波长即第1透射波长的范围比所述第1波长长并且比所述第2波长短,所述至少1个第2区域的透射波长即第2透射波长的范围比所述第1波长长并且比所述第2波长短,所述第2透射波长的半值宽度与所述第1透射波长的半值宽度不同;至少1个第1检测器,其检测在所述至少1个第1区域进行透射后的所述第3光的第1光量;和至少1个第2检测器,其检测在所述至少1个第2区域进行透射后的所述第3光的第2光量。 | ||
地址 | 日本国大阪府 |