| 发明名称 | 一种内嵌微流道的LTCC基板测试方法和装置 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种内嵌微流道的LTCC基板测试方法和装置，该方法包括对LTCC基板样品进行初步检测；对通过初步检测的LTCC基板样品分别进行低温贮存测试、高温贮存测试和高低温循环测试，并对每次测试后的LTCC基板样品进行检测。该方法和装置对内嵌微流道的LTCC基板进行了低温贮存、高温贮存、温度循环等系列环境科目测试，检测内嵌微流道LTCC基板的质量无损和结构完整性，得出其在地面模拟使用环境中是否可靠的定性结论。 | ||
| 申请公布号 | CN106370958A | 申请公布日期 | 2017.02.01 |
| 申请号 | CN201610934313.3 | 申请日期 | 2016.10.25 |
| 申请人 | 北京大学深圳研究生院 | 发明人 | 刘念;缪旻;金玉丰 |
| 分类号 | G01R31/00(2006.01)I;G01N21/88(2006.01)I;G01N29/06(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 | 代理人 | 郭燕 |
| 主权项 | 一种内嵌微流道的LTCC基板测试方法,其特征在于，所述方法包括：对LTCC基板样品进行初步检测；对通过初步检测的LTCC基板样品分别进行低温贮存测试、高温贮存测试和高低温循环测试，并对每次测试后的LTCC基板样品进行检测。 | ||
| 地址 | 518055 广东省深圳市南山区西丽深圳大学城北大园区 | ||