发明名称 Vorrichtung, Verfahren und Anlage zur inhomogenen Abkühlung eines flächigen Gegenstandes
摘要 Vorrichtung zur inhomogenen Abkühlung eines flächigen Gegenstandes (2) mit einer ersten Hauptfläche (200) und einer dieser gegenüber liegenden zweiten Hauptfläche (202), wobei der flächige Gegenstand (2) aus Richtung der ersten Hauptfläche (200) von einer Kühleinrichtung (1) gekühlt wird und wobei auf die zweite Hauptfläche (202) eine Heizeinrichtung (4) auf eine erste Teilfläche (204) lokal derart einwirkt, dass der flächige Gegenstand (2) an dieser ersten Teilfläche (204) relativ zu einer an diese erste Teilfläche (204) anschließenden zweiten Teilfläche (206) derart mit Wärme beaufschlagt wird, dass diese erste Teilfläche (204) im Vergleich zur zweiten Teilfläche (206) langsamer abgekühlt wird und somit die zweite Hauptfläche (202) des flächigen Gegenstands (2) während des Abkühlvorgangs zumindest in einem Teilzeitraum der Abkühlung eine inhomogene Temperaturverteilung aufweist, wobei die Vorrichtung somit dazu ausgebildet ist, dass die Erstarrung eines Lots (26), durch das lokale, relative Erwärmen im Bereich der ersten Teilfläche (204) solange verzögert wird, bis die Erstarrung im Bereich der zweiten Teilfläche (206) eingesetzt hat.
申请公布号 DE102015106298(B4) 申请公布日期 2017.01.26
申请号 DE201510106298 申请日期 2015.04.24
申请人 SEMIKRON Elektronik GmbH & Co. KG 发明人 Ammon, Jörg;Kobolla, Harald
分类号 H01L21/58;B23K1/005;B23K3/08 主分类号 H01L21/58
代理机构 代理人
主权项
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