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经营范围
发明名称
窒化物半導体装置
摘要
【課題】高阻止耐圧を確保しつつ、より低オン抵抗化を図る。【解決手段】基板1上にGaN層2、AlGaN層3及びGaN層3を備え、GaN層2とAlGaN層3の界面近傍のGaN層2には2次元電子ガスが、AlGaN層3とGaN層4の界面近傍のGaN層4には2次元ホールガスが形成される。更に、基板1の平面方向において、ゲート領域となるp+−GaN層6が、ソース領域およびドレイン領域となるn+−GaN層9、10の配列方向に対する垂直方向に複数に分割される。【選択図】図1
申请公布号
JP2017022323(A)
申请公布日期
2017.01.26
申请号
JP20150140825
申请日期
2015.07.14
申请人
株式会社デンソー
发明人
樋口 安史;星 真一;小山 和博
分类号
H01L21/338;H01L21/336;H01L21/337;H01L27/098;H01L29/778;H01L29/78;H01L29/808;H01L29/812
主分类号
H01L21/338
代理机构
代理人
主权项
地址
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