发明名称 表面処理装置および表面処理方法
摘要 【課題】意図しない箇所が処理されてしまうことを低減し、優れた表面処理精度を発揮することのできる表面処理装置および表面処理方法を提供する。【解決手段】表面処理装置100は、反応性ガスG2を吐出する反応性ガス吐出部510と、反応性ガス吐出部510から吐出された反応性ガスG2を吸引する反応性ガス吸引部530と、反応性ガスG2に対して不活性なシールドガスGSを吐出するシールドガス吐出部540と、を有し、シールドガス吐出部540は、反応性ガス吐出部510に対して反応性ガス吸引部530と同じ側に位置し、反応性ガス吐出部510からの距離が反応性ガス吸引部530よりも遠い。【選択図】図1
申请公布号 JP2017022230(A) 申请公布日期 2017.01.26
申请号 JP20150137772 申请日期 2015.07.09
申请人 セイコーエプソン株式会社 发明人 齋場 孝司
分类号 H01L21/3065;H05H1/24;H05H1/30 主分类号 H01L21/3065
代理机构 代理人
主权项
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