发明名称 Elektronenstrahlvorrichtung
摘要 Die vorliegende Erfindung sieht eine Elektronenstrahlvorrichtung vor, die eine hohe räumliche Auflösung und eine hohe Luminanz erreicht, während sie für die Wirkungen äußerer Störungen unempfindlich bleibt. Die vorliegende Erfindung betrifft eine Elektronenstrahlvorrichtung, wobei beispielsweise zwischen einer Elektronenquelle (101) zum Erzeugen eines Elektronenstrahls und einer Objektivlinse zum Fokussieren des Elektronenstrahls auf eine Probe (114) eine Hochspannungs-Strahlröhre (110) nahe der Elektronenquelle (101) angeordnet ist und eine Niederspannungs-Strahlröhre (112) nahe der Objektivlinse angeordnet ist. Dies ermöglicht es, eine hohe Luminanz zu erreichen, während die räumliche Auflösung beibehalten wird, und zwar selbst mit einem SEM, das mit einem Objektivlinsentyp versehen ist, der ein Magnetfeld tief zu einer Probe streut.
申请公布号 DE112015001268(T5) 申请公布日期 2017.01.26
申请号 DE20151101268T 申请日期 2015.04.22
申请人 HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION 发明人 Nomaguchi, Tsunenori;Agemura, Toshihide
分类号 H01J37/04;H01J37/12;H01J37/141;H01J37/145;H01J37/28 主分类号 H01J37/04
代理机构 代理人
主权项
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