发明名称 PELLIKEL FÜR PROJEKTIONSBELICHTUNGSANLAGEN MIT MEHREREN SCHICHTEN
摘要 Die vorliegende Erfindung betrifft ein Pellikel für eine Projektionsbelichtungsanlage für die Mikrolithographie sowie eine Projektionsbelichtungsanlage mit einem Pellikel mit einer Membran (10) aus Silizium, die eine Beschichtung aufweist, wobei in der Beschichtung mindestens eine Oxidationsschutzschicht (12) angeordnet ist, wobei die Beschichtung weiterhin mindestens eine Wasserstoffschutzschicht (13) umfasst.
申请公布号 DE102016224112(A1) 申请公布日期 2017.01.26
申请号 DE201610224112 申请日期 2016.12.05
申请人 Carl Zeiss SMT GmbH 发明人 Ehm, Dirk Heinrich
分类号 G03F1/62;G02B1/10;G03F7/20 主分类号 G03F1/62
代理机构 代理人
主权项
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