发明名称 |
一种ATE数字测试系统及其自检方法 |
摘要 |
本发明公开了一种ATE数字测试系统及其自检方法,该ATE数字测试系统,包括地址发生器、图形存储器、指令存储器、自检存储器以及驱动器,地址发生器与图形存储器、指令存储器和自检存储器均连接,自检存储器与总线相连,图形存储器与驱动器相连。本发明有效解决传统的自检方式没有验证到的部分,用于自检的图形包含除加一以外的循环、跳转、块循环等特殊指令,之后对此图形的运行轨迹进行监测,观察在高速运行下是否地址按照各个微指令进行相应的变化,由此验证系统的性能以及微指令部分的逻辑是否正常。可以更大程度上的体现诸多传统自检无法发现的潜在问题,使出厂的设备更稳定,故障率更小,在现场故障中更容易有针对性的排除干扰找到问题。 |
申请公布号 |
CN106356102A |
申请公布日期 |
2017.01.25 |
申请号 |
CN201610867908.1 |
申请日期 |
2016.09.29 |
申请人 |
江苏艾科半导体有限公司 |
发明人 |
高爽;王浩 |
分类号 |
G11C29/56(2006.01)I |
主分类号 |
G11C29/56(2006.01)I |
代理机构 |
南京申云知识产权代理事务所(普通合伙) 32274 |
代理人 |
邱兴天 |
主权项 |
一种ATE数字测试系统,其特征在于,包括地址发生器、图形存储器、指令存储器、自检存储器以及驱动器,地址发生器与图形存储器、指令存储器和自检存储器均连接,自检存储器与总线相连,图形存储器与驱动器相连。 |
地址 |
212009 江苏省镇江市四平山路6号智能装备产业园 |