发明名称 CTP全自动校准老化系统及其实现方法
摘要 本发明涉及CTP全自动校准老化系统及其实现方法,系统包括光能量采集系统,高精度光学聚焦系统和机械结构部分,光能量采集系统包括扫描卡和采集卡,扫描卡和采集卡之间通过MAX232通信接口连接通信,扫描卡与上位机之间通过MAX232通信接口连接通信;采用光纤密排和高分辨率镜头相结合的方式,利用激光光束的高斯特性与相干特性进行焦深扩展,实现不低于10微米点间分辨率;集成了线性光纤密排组件,通过ST光纤接口将激光能量汇集到紧密排列的光纤端面线阵;集成高分辨率的精密光学镜头;集成激光功率动态采集单元,实现闭环激光功率自动校准、达到高均匀度曝光的目的,提高了曝光制版效率,改善了成像质量,实现了高精度制版印刷质量,提高了CTP光源模组的可靠性。
申请公布号 CN104406774B 申请公布日期 2017.01.25
申请号 CN201410736281.7 申请日期 2014.12.07
申请人 矽卓光电技术(天津)有限公司 发明人 冯永茂;关世阳;吴克强;孙哲
分类号 G01M11/02(2006.01)I 主分类号 G01M11/02(2006.01)I
代理机构 天津中环专利商标代理有限公司 12105 代理人 莫琪
主权项 CTP全自动校准老化系统,包括光能量采集系统,高精度光学聚焦系统和机械结构部分和上位机,其特征在于,所述光能量采集系统包括扫描卡和采集卡,扫描卡和采集卡之间通过MAX232通信接口连接通信,所述扫描卡与上位机之间通过MAX232通信接口连接通信;光能量采集系统的扫描卡电路包括主控制器STM32F103、FPGA芯片和两个MAX232通信接口芯片;主控制器STM32F103分别与FPGA芯片、两个MAX232通信接口芯片连接;采集卡电路包括单片机Atmega8、EEPROM芯片AT24C02、MAX232通信接口、温度传感器DS18B20、光电池;单片机Atmega8分别与EEPROM芯片AT24C02、MAX232通信接口、温度传感器DS18B20、光电池连接;扫描卡的主控核心是主控制器STM32F103和FPGA芯片,主控制器STM32F103负责解析上位机发送的命令、接收来自采集卡的数据,以及和FPGA芯片进行通信工作;采集卡的主控核心是单片机Atmega8,负责EEPROM芯片AT24C02的读写、通信处理、数据采集工作,扫描卡通过MAX232通信接口与采集卡进行双向信息交互,以完成整个老化测试系统的底层驱动;所述高精度光学聚焦系统由高分辨率CTP线阵聚焦镜头(19)、光纤密排(20)和光电池(21)组成;所述机械结构部分包括光学平台(18),以光学平台(18)为底板固定机箱,机箱内部为光学部件,光学平台(18)上面固定长导轨(7),长导轨(7)包括上面板和两个侧面板,两个侧面板的下端内收,下端部弯曲成小边,作为固定平面,其截面为梯形的部分上底宽于下底,长导轨(7)的长向表面设有两条平行的光滑金属条;长导轨(7)上依次置放三个导轨滑片,导轨滑片包括上面板和两个侧面板,两个侧面板的下端内收,其截面为梯形的部分上底宽于下底,导轨滑片和长导轨(7)相互滑动配合,以长导轨(7)为轨道左右移动,导轨滑片的侧面板设有螺孔,螺孔用于和调整螺钉配合;三个导轨滑片分别为第一导轨滑片(6),第二导轨滑片(9),第三导轨滑片(11);第一导轨滑片(6)上固定第一支架座(5),第一支架座(5)上固定外支架A(13),外支架A(13)内插入光纤支架插杆(12),光纤支架插杆(12)与光纤密排支架(1)的底部连接;光纤密排支架(1)上固定光纤密排(20);第二导轨滑片(9)上固定第二支架座(8),第二支架座(8)上固定外支架B(15),外支架B(15)内插入镜头支架插杆(14),镜头支架插杆(14)与镜头支架(2)的底部连接;镜头支架(2)上固定高分辨率CTP线阵聚焦镜头(19);第三导轨滑片(11)上固定第三支架座(10),第三支架座(10)上固定外支架C(17),外支架C(17)内插入光电池支架插杆(16),光电池支架插杆(16)与光电池支架(3)的底部连接;光电池支架(3)上固定光电池(21);长导轨(7)的最右端为散热装置。
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