发明名称 |
一种多层熔体高度的测量方法 |
摘要 |
本发明提供一种液位测量方法,用以测量多层熔体中每层熔体的高度。本发明在传感器上设置多个测点,获得被测熔体不同高度区间的电阻值;基于电阻值与区间高度之间的关系,识别出分层熔体界面所在区间;利用单层熔体的电阻值,推算出分层熔体界面的准确位置,进而计算出每层熔体的高度。本发明使用多个环形测点一次性测出分层熔体的分界面高度,以及各层电阻率,简化了测量过程,提高了测量的效率,适用范围广,可用于高温、腐蚀等介质的特殊场合,可以广泛应用于石油、化工、冶金等行业中。 |
申请公布号 |
CN104034390B |
申请公布日期 |
2017.01.25 |
申请号 |
CN201410304220.3 |
申请日期 |
2014.06.30 |
申请人 |
中南大学 |
发明人 |
周萍;李家栋;石朋雨;宋彦坡 |
分类号 |
G01F23/24(2006.01)I |
主分类号 |
G01F23/24(2006.01)I |
代理机构 |
中南大学专利中心 43200 |
代理人 |
胡燕瑜 |
主权项 |
一种多层熔体高度的测量方法,其特征在于:在传感器上设置多个环形测点,每层熔体中至少有两个测点,对第一层熔体中的两个测点测量,获得两测点间被测熔体的电阻值,基于电阻值与两测点间距离及测点的横截面积的关系,计算出两测点间熔体的电阻率;再对第二层熔体中的两个测点测量,获得两测点间被测熔体的电阻值,基于电阻值与两测点间距离及测点的横截面积的关系,计算出两测点间熔体的电阻率;基于以上两步的计算,可判断出分层熔体界面位于第一层熔体的低位测点与第二层熔体的高位测点之间,将两测点连接成回路,可获得两测点间被测熔体的电阻值,进而计算出熔体分界面的高度。 |
地址 |
410083 湖南省长沙市岳麓区左家垅麓山南路932号 |