| 发明名称 | 在安检系统中估算被检查物体重量的方法和装置 | ||
| 摘要 | 公开了一种在安检系统中估算被检查物体重量的方法和装置。通过双能射线扫描获得被检查物体每个像素点所对应的等效原子序数值和双能高能灰度特征值。利用各个像素所述等效原子序数和双能高能灰度特征值从预先创建的质量厚度衰减曲线得到相应像素的质量厚度值。通过将所述质量厚度值与像素的面积相乘来获得被检查物体至少一部分的重量信息。此种方法可以较精确计算出被检物的重量，节省了传统的称重硬件成本。 | ||
| 申请公布号 | CN106353828A | 申请公布日期 | 2017.01.25 |
| 申请号 | CN201510434952.9 | 申请日期 | 2015.07.22 |
| 申请人 | 清华大学;同方威视技术股份有限公司 | 发明人 | 陈志强;李元景;张丽;赵自然;刘耀红;郑娟;顾建平;宗春光 |
| 分类号 | G01V5/00(2006.01)I | 主分类号 | G01V5/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人 | 王波波 |
| 主权项 | 一种在安检系统中估算被检查物体重量的方法，包括步骤：通过双能射线扫描获得被检查物体每个像素点所对应的等效原子序数值和双能高能灰度特征值；利用各个像素所述等效原子序数和双能高能灰度特征值从预先创建的质量厚度衰减曲线得到相应像素的质量厚度值；通过将所述质量厚度值与像素的面积相乘来获得被检查物体至少一部分的重量信息。 | ||
| 地址 | 100084 北京市海淀区清华园1号 | ||