一种基于细芯光纤马赫‑曾德干涉仪的材料应变测量方法

摘要

本发明提供了一种基于细芯光纤马赫‑曾德干涉仪的应变测量方法，所述方法包括以下步骤：a)搭建细芯光纤马赫‑曾德干涉仪，细芯光纤马赫‑曾德干涉仪依次连接泵浦源、一支波分复用器以及细芯光纤马赫‑曾德结构；细芯光纤马赫‑曾德结构包括一段细芯光纤、第一掺杂稀土光纤和第二掺杂稀土光纤，细芯光纤熔接在第一掺杂稀土光纤和第二掺杂稀土光纤之间；b)将细芯光纤马赫‑曾德结构与可控应变材料贴合；c)逐渐改变材料的应变大小，记录梳状谱移动的长度，绘制梳状谱移动长度与材料应变大小的变化曲线；d)通过所述梳状谱移动长度与材料应变带下的变化曲线对材料应变进行测量。

主权项

一种基于细芯光纤马赫‑曾德干涉仪的材料应变测量方法，其特征在于所述测量方法包括以下步骤：a)搭建所述细芯光纤马赫‑曾德干涉仪，所述细芯光纤马赫‑曾德干涉仪通过光栅光纤依次连接泵浦源、一支波分复用器以及细芯光纤马赫‑曾德结构；所述细芯光纤马赫‑曾德结构包括一段细芯光纤、第一掺杂稀土光纤和第二掺杂稀土光纤，所述细芯光纤熔接在第一掺杂稀土光纤和第二掺杂稀土光纤之间，所述第一掺杂稀土光纤和第二掺杂稀土光纤作为光纤激光器的增益介质；b)将所述细芯光纤马赫‑曾德结构与可控应变材料贴合；c)逐渐改变材料应变大小，记录梳状谱移动的长度，绘制梳状谱移动长度与材料应变大小的变化曲线；d)通过所述梳状谱移动长度与材料应变大小的变化曲线对材料应变进行测量。