发明名称 |
一种基于偶极子层浮栅结构的增强型AlGaN/GaN MISHEMT器件结构及其制作方法 |
摘要 |
本发明公开了一种基于偶极子层浮栅结构的增强型AlGaN/GaN MISHEMT器件结构及其制作方法,自下而上依次包括衬底,GaN缓冲层,AlN隔离层、GaN沟道层,AlGaN本征层和AlGaN掺杂层,所述AlGaN掺杂层上设有源电极、栅电极和漏电极,上述结构的顶层还间隔淀积有钝化层,所述栅电极与所述AlGaN掺杂层之间设有PTFE绝缘层。本发明采用PTFE和ITO所产生的偶极子层实现了对2DEG浓度的控制,成功的减少了所控制部分的2DEG的浓度;本发明没有采用将F负离子注入AlGaN掺杂层的方法,一方面避免了对材料的晶格损伤,另一方面也避免了F离子在高温时发生移动造成器件阈值电压发生漂移。 |
申请公布号 |
CN104037220B |
申请公布日期 |
2017.01.25 |
申请号 |
CN201410312393.X |
申请日期 |
2014.07.02 |
申请人 |
西安电子科技大学 |
发明人 |
冯倩;代波;董良;杜锴;郑雪峰;张春福;马晓华;郝跃 |
分类号 |
H01L29/778(2006.01)I;H01L29/51(2006.01)I;H01L21/335(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/778(2006.01)I |
代理机构 |
北京世誉鑫诚专利代理事务所(普通合伙) 11368 |
代理人 |
郭官厚 |
主权项 |
一种基于偶极子层浮栅结构的增强型AlGaN/GaN MISHEMT器件结构,其特征在于,自下而上依次包括衬底,GaN缓冲层,AlN隔离层、GaN沟道层,AlGaN本征层和AlGaN掺杂层,所述AlGaN掺杂层上设有源电极、ITO栅电极和漏电极,上述结构的顶层还间隔淀积有钝化层,所述ITO栅电极与所述AlGaN掺杂层之间设有PTFE绝缘层。 |
地址 |
710071 陕西省西安市太白南路2号 |