发明名称 一种基于偶极子层浮栅结构的增强型AlGaN/GaN MISHEMT器件结构及其制作方法
摘要 本发明公开了一种基于偶极子层浮栅结构的增强型AlGaN/GaN MISHEMT器件结构及其制作方法,自下而上依次包括衬底,GaN缓冲层,AlN隔离层、GaN沟道层,AlGaN本征层和AlGaN掺杂层,所述AlGaN掺杂层上设有源电极、栅电极和漏电极,上述结构的顶层还间隔淀积有钝化层,所述栅电极与所述AlGaN掺杂层之间设有PTFE绝缘层。本发明采用PTFE和ITO所产生的偶极子层实现了对2DEG浓度的控制,成功的减少了所控制部分的2DEG的浓度;本发明没有采用将F负离子注入AlGaN掺杂层的方法,一方面避免了对材料的晶格损伤,另一方面也避免了F离子在高温时发生移动造成器件阈值电压发生漂移。
申请公布号 CN104037220B 申请公布日期 2017.01.25
申请号 CN201410312393.X 申请日期 2014.07.02
申请人 西安电子科技大学 发明人 冯倩;代波;董良;杜锴;郑雪峰;张春福;马晓华;郝跃
分类号 H01L29/778(2006.01)I;H01L29/51(2006.01)I;H01L21/335(2006.01)I 主分类号 H01L29/778(2006.01)I
代理机构 北京世誉鑫诚专利代理事务所(普通合伙) 11368 代理人 郭官厚
主权项 一种基于偶极子层浮栅结构的增强型AlGaN/GaN MISHEMT器件结构,其特征在于,自下而上依次包括衬底,GaN缓冲层,AlN隔离层、GaN沟道层,AlGaN本征层和AlGaN掺杂层,所述AlGaN掺杂层上设有源电极、ITO栅电极和漏电极,上述结构的顶层还间隔淀积有钝化层,所述ITO栅电极与所述AlGaN掺杂层之间设有PTFE绝缘层。
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