发明名称 包括钳位结构的半导体器件
摘要 本发明涉及包括钳位结构的半导体器件。在半导体器件的实施例中,半导体本体(101)包括钳位结构(102),其包括在第一接触部(C11,C12)和第二接触部(C21,C22)之间背对背串联连接的pn结二极管(103)和肖特基结二极管(104)。pn结二极管(103)的击穿电压(V<sub>br</sub><sup>pn</sup>)大于100V并且肖特基结二极管(104)的击穿电压(V<sub>br</sub><sup>s</sup>)大于10V。
申请公布号 CN106356369A 申请公布日期 2017.01.25
申请号 CN201610765091.7 申请日期 2016.07.15
申请人 英飞凌科技奥地利有限公司 发明人 R·巴布尔斯克;T·巴斯勒;T·基默;H-J·舒尔策;S·福斯
分类号 H01L27/02(2006.01)I 主分类号 H01L27/02(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 申屠伟进;杜荔南
主权项 一种半导体器件,包括:半导体本体(101),包括钳位结构(102),所述钳位结构(102)包括在第一接触部(C11,C12)和第二接触部(C21,C22)之间背对背串联连接的pn结二极管(103)和肖特基结二极管(104),其中所述pn结二极管(103)的击穿电压(V<sub>br</sub><sup>pn</sup>)大于100V并且所述肖特基结二极管(104)的击穿电压(V<sub>br</sub><sup>s</sup>)大于10V。
地址 奥地利菲拉赫