发明名称 |
天线/场探头外推法校准用的精密行走装置以及校准系统 |
摘要 |
一种天线/场探头外推法校准用的精密行走装置以及校准系统,其中精密行走装置,包括导轨、设置在导轨上的行走机构以及用于驱动行走机构沿导轨运动的驱动机构;所述行走机构的上部固定有用于校准的反射镜。所述校准系统包括上述结构的天线/场探头外推法校准用的精密行走装置,该校准系统还包括固定在支撑杆上的被测天线/探头,以及固定在发射天线上的与精密行走装置配合的双频激光干涉仪,该双频激光干涉仪与精密行走装置中的反射镜相对设置。本发明满足了高精度的天线和场探头采用外推法校准的需求,不仅结构简单紧凑,可靠稳定,还具有操作简便、精确高等特点;可广泛适用于微波天线和微波场探头的校准、测试等场合。 |
申请公布号 |
CN106353709A |
申请公布日期 |
2017.01.25 |
申请号 |
CN201611007993.0 |
申请日期 |
2016.11.16 |
申请人 |
广州赛宝计量检测中心服务有限公司 |
发明人 |
梁琼崇 |
分类号 |
G01R35/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01R35/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京英特普罗知识产权代理有限公司 11015 |
代理人 |
齐永红;刘强 |
主权项 |
一种天线/场探头外推法校准用的精密行走装置,其特征在于,它包括导轨(1)、设置在导轨(1)上的行走机构(2)以及用于驱动行走机构(2)沿导轨(1)运动的驱动机构(3);所述行走机构(2)的上部固定有用于校准的反射镜(4)。 |
地址 |
510000 广东省广州市天河区东莞庄路110号 |