| 发明名称 | 磁环表面缺陷提取方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种磁环表面缺陷提取方法，包括如下步骤：利用0TSU分割磁环图像S(X，Y)，得到磁环二值图像B(X，Y)，将B(X，Y)和S(X，Y)进行与运算，得到屏蔽背景图像F(X，Y)；利用Canny算法提取磁环图像F(X，Y)的边缘检测图像Q(X，Y)；将Q(X，Y)转换为数字形态学运算图像Q<sub>x</sub>(X，Y)；对Q<sub>x</sub>(X，Y)内部连通区域进行填充，得到掩模图像Q<sub>m</sub>(X，Y)；将Q<sub>m</sub>(X，Y)和Q<sub>x</sub>(X，Y)进行异或运算，得到缺陷连通域图像Q′(X，Y)。本发明运行效率高和准确率高，稳定性和鲁棒性强，能够识别常见的缺陷的具有特点。 | ||
| 申请公布号 | CN106353324A | 申请公布日期 | 2017.01.25 |
| 申请号 | CN201610656786.1 | 申请日期 | 2016.08.10 |
| 申请人 | 浙江理工大学 | 发明人 | 李俊峰;张之祥;沈军民;陈龙 |
| 分类号 | G01N21/88(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/88(2006.01)I |
| 代理机构 | 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 | 代理人 | 尉伟敏;阎忠华 |
| 主权项 | 一种磁环表面缺陷提取方法，其特征是，包括如下步骤：(1‑1)利用OTSU分割磁环图像S(X，Y)，得到磁环二值图像B(X，Y)，将B(X，Y)和S(X，Y)进行与运算，得到屏蔽背景图像F(X，Y)；(1‑2)利用Canny算法提取磁环图像F(X，Y)的边缘检测图像Q(X，Y)：(1‑3)将Q(X，Y)转换为数字形态学运算图像Q<sub>x</sub>(X，Y)；(1‑4)对Q<sub>x</sub>(X，Y)内部连通区域进行填充，得到掩模图像Q<sub>m</sub>(X，Y)；(1‑5)将Q<sub>m</sub>(X，Y)和Q<sub>x</sub>(X，Y)进行异或运算，得到缺陷连通域图像Q′(X，Y)。 | ||
| 地址 | 310018 浙江省杭州市下沙高教园区浙江理工大学 | ||