| 主权项 |
一种次临界系统次临界度的测量方法，其特征在于，包括如下步骤:(1)、将至少两个相同的探测器均匀布置在受外源影响相同的对称位置；(2)、获取所述至少两个相同的探测器的探测器截面Σ<sub>det</sub>空间及能量分布；(3)、改变系统次临界度，测量预设组不同状态的“真实”次临界度；(4)、根据所述至少两个相同的探测器的探测器截面Σ<sub>det</sub>空间及能量分布,测量所述预设组不同状态的“测量”次临界度；(5)、根据所述预设组不同状态的“真实”次临界度与“测量”次临界度，得到“真实”次临界度与“测量”次临界度的对应关系；(6)、运行中，对任一当前状态，根据所述当前状态的“测量”次临界度和所述“真实”次临界度与“测量”次临界度的对应关系，获取所述当前状态的“真实”次临界度；其中，根据所述至少两个相同的探测器探测到的探测器截面Σ<sub>det</sub>空间及能量分布,测量所述预设组不同状态的“测量”次临界度，包括：根据所述至少两个相同的探测器的探测器截面Σ<sub>det</sub>空间及能量分布抽象一个集总探测器；选择一次临界度值已知的参考态，记录第一已知源强和所述集总探测器测量出第一探测器计数；对所述预设组的任一待测状态，记录第二已知源强和所述集总探测器测量出的第二探测器计数；将所述第一已知源强、所述第一探测器计数、所述第二已知源强以及所述第二探测器计数，代入源倍增法公式中求得所述预设组中待测状态的所述“测量”次临界度。 |
