| 发明名称 |
TEST SYSTEM AND TEST METHOD |
| 摘要 |
테스트 시스템은 저장된 데이터 청크를 리드하도록 구성된 메모리 장치 및 상기 데이터 청크가 소정 개수 이하의 에러 비트들을 포함하고 상기 데이터 청크에 대한 디코딩이 실패할 확률인 누적 실패 확률을 산출하도록 구성된 테스트 장치를 포함하는 포함한다. |
| 申请公布号 |
KR20170009554(A) |
申请公布日期 |
2017.01.25 |
| 申请号 |
KR20150101798 |
申请日期 |
2015.07.17 |
| 申请人 |
에스케이하이닉스 주식회사 |
发明人 |
채철수 |
| 分类号 |
G11C29/42;G11C29/02;G11C29/36 |
主分类号 |
G11C29/42 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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